创新样板工厂

SiC及相关材料团队

SiC&Related Materials Group

产品规格及参数

团队生长的6英寸外延片指标和批次稳定性达到国内领先水平,目前已实现小规模量产。6英寸外延片批量性能如下:载流子浓度面内均匀性≤4%,厚度面内均匀性≤2%,表面粗糙度≤0.2nm,表面缺陷密度<0.5个/cm2

类目标准化定制化
晶型4H
CMP晶面(0001)Si晶面
偏角偏[11-20]4度
导电性N型
掺杂
载流子浓度范围1E15~3E16cm-35E14~5E16cm-3
容忍度±10%±9%
均匀度≤5%≤4%
厚度范围≤30 μm≤100 μm
容忍度±6%±5%
均匀度≤ 3%< 2%
表面缺陷密度≤1 cm-2≤0.5 cm-2
表面粗糙度≤0.5nm≤0.3 nm

碳化硅外延片

碳化硅外延片

验证晶圆片

科学面对面

团队实验室